Análise da influência de fenômenos de difração em experimentos de fotoemissão eletrônica através da comparação entre simulações de espectroscopia e difração de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) (2021)
- Authors:
- USP affiliated author: MONTEVECHI FILHO, MARCO ANTÔNIO BARRA - EEL
- School: EEL
- Subject: ESPECTROSCOPIA
- Language: Português
- Abstract: Espectroscopia de elétrons fotoemitidos por raios X (XPS, do inglês X-ray photoelectron spectroscopy) e difração de fotoelétrons emitidos por raios X (XPD, do inglês X-ray photoelectron difraction) são duas formas, amplamente utilizadas na ciência, de se estudar os sinais de elétrons fotoemitidos por materiais, em geral com o objetivo de caracterização. Os princípios físicos dos quais esses estudos se originam são conhecidos ao ponto de existirem softwares que simulam os resultados obtidos por cada um deles, sendo SESSA e EDAC dois destes softwares. O presente trabalho compara resultados obtidos através de simulações de cada um desses programas para compostos de SrTiO3 no objetivo de verificar se os fenômenos de difração e espalhamento múltiplo de fotoelétrons – que são levados em consideração pelos modelos de simulação do EDAC, mas não o são pelos modelos do SESSA – podem interferir nos resultados de experimentos de XPS e, se sim, quais conclusões podem ser tiradas de cada experimento e da divergência de resultados entre eles. Os resultados obtidos indicam divergência de conclusões entre os modelos, de forma que uma tirada de conclusões de cada experimento depende de um estudo cuidadoso, caso-a-caso, das configurações experimentais e amostrais.
- Imprenta:
-
ABNT
MONTEVECHI FILHO, Marco A. B. Análise da influência de fenômenos de difração em experimentos de fotoemissão eletrônica através da comparação entre simulações de espectroscopia e difração de fotoelétrons excitados por raios X (XPS). 2021. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação) – EEL, Lorena, 2021. Disponível em: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/ca79c4e3-9297-4565-831b-2391086aa821/EF21021MARCO%20MONTEVECHI%20FILHO.pdf. Acesso em: 08 maio 2024. -
APA
Montevechi Filho, M. A. B. (2021). Análise da influência de fenômenos de difração em experimentos de fotoemissão eletrônica através da comparação entre simulações de espectroscopia e difração de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) (Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação). EEL, Lorena. Recuperado de https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/ca79c4e3-9297-4565-831b-2391086aa821/EF21021MARCO%20MONTEVECHI%20FILHO.pdf -
NLM
Montevechi Filho MAB. Análise da influência de fenômenos de difração em experimentos de fotoemissão eletrônica através da comparação entre simulações de espectroscopia e difração de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 08 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/ca79c4e3-9297-4565-831b-2391086aa821/EF21021MARCO%20MONTEVECHI%20FILHO.pdf -
Vancouver
Montevechi Filho MAB. Análise da influência de fenômenos de difração em experimentos de fotoemissão eletrônica através da comparação entre simulações de espectroscopia e difração de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 08 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/ca79c4e3-9297-4565-831b-2391086aa821/EF21021MARCO%20MONTEVECHI%20FILHO.pdf
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 |
EF21021MARCO MONTEVECHI F... | Direct link |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
